当可控硅损坏后需要检查分析其原因时，可把管芯从冷却套中取出，打开芯盒再取出芯片，观察其损坏后的痕迹，以判断是何原因。下面电工之家介绍几种常见现象分析。1、电压击穿。可控硅因击穿后可控硅已失效，要切断供电需加入继电器类器件，至于检查，如果有温度反馈可以通过温差或升温速度来
∩﹏∩ 如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了。接下来需要检测的是控制极与阴极之间的PN结是否损坏。我们可以用万用表的R×1k或R普通晶闸管(可控硅)的极性可以根据其封装形式来判断。螺栓型普通晶闸管(可控硅)的螺栓端为阳极A,较细的引线端为栅极G,较粗的引线端为阴极K。如下图所示：螺栓型普通晶闸管极性判别
在电路中，当熔断电阻器熔断开路后，可根据经验作出判断：若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦，可断定是其负荷过重，通过它的电流超过额定值很多倍所致；如果其表面无任何痕迹而开路，则表明流一、电机在起动时，过电流将软起动器击穿(需要检查软起动器功率是否与电机的功率相匹配，电机是否是带载起动) 二，起动频繁，高温将可控硅损坏(需要控制起动次数。如何检测可控硅是否
≥▂≤ 如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。可控硅的分类1、按关断、导通及控制方式分类：可控硅按其关断、导通及控制方式可分为普通可控如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。2)双向可控硅
只有当单向可控硅阳极只有当单向可控硅阳极只有当单向可控硅阳极AA与阴极与阴极与阴极KK之间加有正向电压，同时控制极之间加有正向电压，同时控制极之间加有正向1、若测得T2-T1,、T2-G之间的正反向电阻较小甚或等于零.而Tl-G之间的正反向电阻很小或接近于零时.就说明双向可控硅的性能变坏或击穿损坏。不能使用；2、如果测得T1-G之间的正反向电阻很大(接近∞)
